Физика и диагностика поверхности твёрдых тел


Учебная дисциплина для бакалавров IV курса физико-технического института ПетрГУ


Список вопросов к экзамену


Содержание лекций: Базовый вариант

  1. Определение поверхности. Виды поверхности. Атомная структура поверхностного слоя. Классификация дефектов на поверхности, релаксация и реконструкция. Физическая, химическая и индуцированная неоднородности.
  2. Способы приготовления и очистки поверхности. Методы предварительной и вакуумной очистки. Поверхность в условиях вакуума. Характер сил связи и виды связей на поверхности. Поверхности пористых материалов.
  3. Определение адсорбции. Физические характеристики адсорбции. Изотермы адсорбции Ленгмюра, БЭТ, Холси. Экспериментальные методы исследования адсорбции: ТСД, метод тепловой вспышки.
  4. Методы эффекта поля в исследовании поверхности. Основные состояния поверхности полупроводника. Дебаевская длина экранирования. Основные характеристики ОПЗ.
  5. Электро- и фотоотражение. Измерение поверхностной фото-ЭДС.
  6. Эллипсометрия (теория, принцип работы нуль-эллипсометра и спектроскопического эллипсометра).
  7. Работа выхода электрона из твёрдого тела. Методы измерения работы выхода. Методы полевой эмиссии. Полевой электронный и ионный микроскопы.
  8. Просвечивающая и растровая электронная микроскопия. Устройство и принцип работы сканирующих зондовых микроскопов (СТМ, АСМ).
  9. Методы электронной спектроскопии: УФС, РФС, СПЭ, РФА, СНИ, ЭОС, энергодисперсионный микроанализ. Конструкции энергоанализаторов.
  10. Рентгеновские дифракционные методы. Методы дифракции электронов (ДМЭ, ДОБЭ).
  11. ИК-спектроскопия. Конструкции ИК-спектрометров, в т.ч. Фурье-спектрометры. Метод МНПВО.
  12. Методы ионной спектроскопии: ВИМС, РМИ. Конструкции масс-анализаторов. Атомно-эмиссионная спектроскопия.
  13. Методы ЭПР и ЯМР.

Печать